硬X射线台式吸收精细结构谱仪（RapidXAFS）只能在各个同步辐射光源上测试。由于光源机时有限，无法满足众多科研工作者的测试需求。而近些年，XAFS数据已成为了顶级期刊的“标配”，致使越来越多课题组需要XAFS测试。

台式XAFS不依赖于长程有序结构，可用于非晶态材料的研究；不受其它元素干扰，可对同一材料中不同元素分别研究。

RapidXAFS HEX射线吸收谱仪是一种研究材料局域原子或电子结构的有力工具，广泛应用于催化、能源、纳米等热门领域。

桌面XAFS测试对样品无破坏，在大气环境下测试，可进行原位测试；不受样品状态影响，可测量固体(晶体、粉末)，液体(溶液、熔融态)和气体等。

桌面XAS测试是一种研究材料局域原子或电子结构的有力工具，广泛应用于催化、能源、纳米等热门领域。

发射谱XES是一种重要的分析技术，主要用于研究材料的电子结构和化学性质。硬X射线具有较高的能量，能够深入样品内部，使XES成为探测材料深层信息的强有力工具。